臺式合金鍍層測厚儀

臺式合金電鍍鍍層測厚儀：精準(zhǔn)測量，賦能品質(zhì)管控

臺式合金電鍍鍍層測厚儀是一款專為精確測量合金材料表面電鍍層厚度而設(shè)計(jì)的高精度檢測設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子、五金、汽車、航空航天等眾多行業(yè)，為產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定與提升提供了關(guān)鍵支持。

*測量原理，確保精準(zhǔn)可靠

該測厚儀主要基于磁性法、渦流法或X射線熒光光譜法等原理進(jìn)行測量。磁性法適用于鐵磁性基體上的非磁性鍍層，如鋼鐵上的鋅、鎳鍍層；渦流法則用于非鐵磁性基體上的導(dǎo)電鍍層，像銅、鋁上的金、銀鍍層；X射線熒光光譜法則能對多種金屬鍍層進(jìn)行無損檢測，且不受基體材料磁性和導(dǎo)電性限制。這些*原理的融合，確保了設(shè)備在不同材質(zhì)和鍍層組合下都能實(shí)現(xiàn)高精度測量，測量誤差極小，為產(chǎn)品質(zhì)量的嚴(yán)格把控提供了堅(jiān)實(shí)的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。

操作便捷，高效檢測

臺式設(shè)計(jì)使設(shè)備穩(wěn)定性強(qiáng)，操作空間充足。儀器配備直觀的操作界面，大屏幕顯示測量數(shù)據(jù)和圖形，操作人員無需復(fù)雜培訓(xùn)即可快速上手。測量時，只需將樣品放置在測量臺上，調(diào)整探頭位置，儀器即可自動完成測量并顯示結(jié)果，大大提高了檢測效率。同時，設(shè)備還具備數(shù)據(jù)存儲和導(dǎo)出功能，方便用戶對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄、分析和追溯，為生產(chǎn)過程的優(yōu)化和質(zhì)量改進(jìn)提供有力依據(jù)。

適應(yīng)性強(qiáng)，應(yīng)用廣泛

無論是微小精密零件還是大型工件，臺式合金電鍍鍍層測厚儀都能輕松應(yīng)對。其可調(diào)節(jié)的測量范圍和多種探頭配置，能夠滿足不同厚度鍍層的測量需求。在電子行業(yè)，用于檢測印刷電路板上的鍍金、鍍錫層厚度，確保電氣連接的可靠性；在汽車制造中，對汽車零部件的鍍鋅、鍍鉻層進(jìn)行測量，提高產(chǎn)品的耐腐蝕性；在航空航天領(lǐng)域，對關(guān)鍵部件的特殊鍍層進(jìn)行精確檢測，保障飛行安全。

品質(zhì)好，穩(wěn)定耐用

設(shè)備采用高品質(zhì)的材料和*的制造工藝，具有良好的穩(wěn)定性和抗干擾能力，能在復(fù)雜的工業(yè)環(huán)境中長期穩(wěn)定運(yùn)行。同時，完善的售后服務(wù)體系為用戶提供及時的技術(shù)支持和維護(hù)保養(yǎng)，確保設(shè)備始終處于優(yōu)良工作狀態(tài)，為用戶創(chuàng)造更大的價(jià)值。

以下是X熒光光譜儀測試電鍍鍍層的儀器詳細(xì)介紹：

鍍層檢測：

常見金屬鍍層有：

單層厚度范圍：

金鍍層0－8um,

鉻鍍層0-15um,

其余一般為0-30um以內(nèi)，

可最小測量達(dá)0.001um。

多層厚度范圍:

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

鍍層層數(shù)為1-6層

鍍層精度相對差值一般<5%。

鍍層成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。

鍍層分析優(yōu)勢：分析PCB金手指最小尺寸可達(dá)0.2mm

單層分析精度，以Ni舉例：（相對差值）

元素成分分析:

鍍液分析，目前常見鍍液元素分析有：金、銀、錫、銅、鎳、鉻、鋅。

ROHS 和無鹵檢測，高性能SDD探測器可以檢測無鹵,實(shí)現(xiàn)鍍層與環(huán)保一機(jī)多用。

金屬成分分析，在檢測ROHS同時可檢測金屬中其他各元素成分含量。

檢測精度：

Cr，Cd，Hg，Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金屬

檢測限達(dá)1ppm。

對這些金屬測試分析穩(wěn)定的讀取允許差值本儀器已達(dá)到下列標(biāo)準(zhǔn)：

A. 檢測含量大于5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于1%

B. 檢測含量在0.5～5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于2%

C. 檢測含量在0.1～0.5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于5%

D. 檢測含量低于0.1%的元素測試讀取相對差值變化率小于10%

測量精度:

1）精度(單層)：

                              測厚儀的檢測精度表

    測試方法: 在相同的操作條件下，對同一標(biāo)準(zhǔn)樣板進(jìn)行5次檢測，檢測到的平均數(shù)據(jù)與標(biāo)樣板的實(shí)際數(shù)據(jù)作比較。檢測精度為檢測平均值與標(biāo)準(zhǔn)樣片實(shí)際值之差（平均誤差）

2）兩層及以上：

  兩層及以上的首層精度符合單層的測試結(jié)果，但是第二層以上比較復(fù)雜，要根據(jù)上面一層的厚度來決定。在一層厚度小于2um時，一層和二層的測試精度基本符合單層的精度，參照如下的測試報(bào)告 一層金標(biāo)樣厚度0.101um，第二層鎳的標(biāo)樣厚度為4.52um。

   在 一層厚度在2～5um時會大大降低第二層的和第三層的測試精度，第二層的誤差率會在5～10%，第三層的誤差率小于15%。

重復(fù)性:

保證重復(fù)性值:≤±5%

    重復(fù)性的檢測應(yīng)在儀器校準(zhǔn)后: 在相同的操作條件下,使用相同的檢測樣板做連續(xù)重復(fù)檢測，連續(xù)測量必須在同一檢測點(diǎn)位置使用一同樣片間隔60秒,測量一共進(jìn)行10次,每次測量值與10次平均值進(jìn)行對比。

重復(fù)性=平均誤差÷平均值×100* %.

報(bào)告打印：

可以PDF，Excel格式輸出報(bào)告，歷史數(shù)據(jù)查詢方便

安全使用,維護(hù)與保養(yǎng)

由于儀器非常精密，未經(jīng)允許情況請不要打開儀器外殼，不要對X射線源和探測器進(jìn)行改變，由用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負(fù)責(zé)任。

儀器安裝一定要平穩(wěn)，儀器后面離墻距離不得小于30厘米，必須使用標(biāo)準(zhǔn)的220V交流電，電壓不穩(wěn)情況要配備穩(wěn)壓電源，插座必須接地良好，由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負(fù)責(zé)。

請不要用濕的手觸摸電源部分，帶水的手也不要碰儀器外殼以免發(fā)生觸電。

進(jìn)行測量時，因?yàn)楦唠妷毫髦罼射線源，儀器運(yùn)行時，不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動運(yùn)行或者遵循用戶指南中止。

儀器環(huán)境要求：儀器使用環(huán)境需清潔，溫度適宜15℃~30℃，濕度≤80%,電源：AC: 220V ±5V。

以上細(xì)節(jié)均有可能造成無法預(yù)測后果，買方應(yīng)予以基本遵守。

臺式合金鍍層測厚儀